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產(chǎn)品資料
顆粒元素分析系統(tǒng)
型號:CIS-LIBS。particle 異物的深入分析,適用行業(yè):汽車、航空、電池、油液等,可實現(xiàn)一鍵多顆粒元素自動分析。
瀏覽次數(shù):
3200
產(chǎn)品概覽
技術(shù)規(guī)格
申請演示
CIS-LIBS元素分析流程
只需一臺即可完成
只需一臺即可快速執(zhí)行從放大觀察到元素判別
要進行元素判別的人員可當(dāng)場進行作業(yè)
無需預(yù)處理
對目標(biāo)物尺寸沒有限制,無需破壞也可直接分析
在空氣中進行分析,無需進行導(dǎo)電性處理及真空處理
輕松進行元素判別
使用顯微系統(tǒng)觀察的同時,一鍵點擊即可進行元素判
根據(jù)內(nèi)部數(shù)據(jù)庫, 瞬時推測檢測物質(zhì)
空氣中一鍵元素分析
工作原理
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
紫外激光轟擊 顆粒表面
顆粒表面全部元素電離, 復(fù)合產(chǎn)生離子發(fā)光
光譜儀捕捉光并分波段識別
內(nèi)部數(shù)據(jù)庫自動匹配 元素及含量
生成顆粒材質(zhì)報告
型號
CIS-LIBS
LIBS光學(xué)模塊
檢測原理
激光誘導(dǎo)擊穿光譜法
檢測性質(zhì)
定性及半定量
檢測能力
%水平(取決于元素)
檢測環(huán)境要求
無,分析在大氣條件下進行
對應(yīng)元素
Cu、Al、SUS、Fe、Li、C、Cr 、Mg、 Mn、 Ni、Ti、Y、Zn 、Au等常見元素
激光
激光類型
Nd:YAG(半導(dǎo)體泵浦)
激光波長
355nm
單脈沖能量
<100μJ
脈沖寬度
1.5ns
點規(guī)格
15um(typ.)
燒蝕深度
1-10um(取決于材料)
光譜儀
光譜范圍
200至780nm
光譜分辨率
0.15nm
信噪比
500:1
探測器
CMOS探測器
激光鏡頭
鏡頭類型
專屬規(guī)格透射型鏡頭
鏡頭倍數(shù)
7X
工作距離
18mm
掃描光學(xué)模塊
入射光軸
相差觀察方法
奧林巴斯BX53M, BF明場照明
物鏡
5X,10X,20X,50X(可選)
照明
大功率數(shù)字LED,軟件可控,帶記憶模式
偏光系統(tǒng)
偏光0°與偏光90°自動數(shù)字切換,帶記憶模式
數(shù)字成像
相機型號
DFK33UX249
相機分辨率
1920X1200 (2.3mp)
相機靶面
1/1.2英寸
幀速
48FPS
掃描載物臺
載物臺方向
XYZ三軸
行程范圍
XY 軸125X75mm,Z軸35mm
分辨率
0.1um(軟件控制)
精度
<5μm
控制方式
軟件自動控制+遙桿細分控制
生成報告
生成方式
自動生成
報告內(nèi)容
單顆粒材質(zhì)專業(yè)報告
全顆粒材質(zhì)專業(yè)報告
電腦
I5處理器,16G內(nèi)存,硬盤1TB,顯示器22寸
設(shè)備電源
供電方式
AC 220V 50Hz
保修期
整機12個月
耐環(huán)境性
使用環(huán)境溫度
使用環(huán)境濕度
重量
系統(tǒng)
約50KG
外形尺寸
寬度490mm x高度600mm x縱深840mm
產(chǎn)品導(dǎo)航
測量顯微鏡
工具顯微鏡
測量顯微鏡
清潔度萃取設(shè)備
自動清潔度萃取設(shè)備
便捷式清潔度清洗萃取設(shè)備
清潔度清洗機
顯微自動檢測系統(tǒng)
顆粒元素分析系統(tǒng)
奧林巴斯清潔度檢測系統(tǒng)
自動清潔度分析系統(tǒng)
自動清潔度檢測系統(tǒng)
清潔度顆粒分析系統(tǒng)
清潔度附件
清潔度顆粒檢測捕捉器
清潔度測試儀附件
聯(lián)系方式
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傳真:025-58189337
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